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高精度位移传感器
高精度位移传感器
2D CMOS激光型ZS-HL
2D CMOS激光型ZS-HL
超高性能传感器支持大范围准确测量的核心质量
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超高性能传感器支持大范围准确测量的核心质量
测量中心距离为20 ~ 1,500 mm的各种型号。
最大分辨率达0.25 μm。
最大响应速度达110 μs。
支持并行输出。
 
超稳定性
最佳尺寸/稳定性
传感器尺寸
重视性能的理想传感器头尺寸和3点式固定构造确保出众的传感稳定性。(参见注释)
 
注:ZS-HLDS2T 不可用。
卓越的移动分辨率
透视分辨率提升
通过提高受光透镜的灵敏度和分辨率,使光学系统较优化,从而大幅度降低移动分辨率误差(因工件表面位置引起的误差)。
 
材质间误差降低
2维CMOS
CCD在受光量过多时电荷会溢出至相邻的像素。CMOS避免了这种现象,不会受不同材质或受光过多导致的光量变动影响。
 
降低决定测量精度的不同物体之间的差异。
因此,可以更方便地应用于检测对象物。
 
1,500mm长距离检测,可以测量以往无法测量的点。
 
注:此功能可能在明亮环境中无效。
 
可稳定测量倾斜工件和移动工件。
 
专门为ZS-HLDS2VT开发的非球面透镜,采用的光学结构设计适用于正反射工件。显著扩大了允许倾斜的角度,并提高了测量透明工件和正反射工件的稳定性。
 
在半导体晶圆片、玻璃等要求精度高的测量上具有较佳优势。
 
 
令人难以置信的测量精度0.25μm,同级产品的较高水平。
 
密封调和器的高度控制
 
HDD用电机旋转座的光盘播放检查
 
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